·
1. Измеряем слой на покритие: дебелина на немагнитен слой на повърхността на всяко магнитно вещество;
2. Дебелина на изолационното покритие на всяка немагнитна метална повърхност
3Лесен дизайн на менюто
4Непрекъснати и единични измервания
5Директен режим на работа и групов режим на работа
6. Статистика и показване: средни, максимални, минимални, стандартни отклонения, статистика
7. Лесно калибриране с една или две точки
8. Може да се запази320Измервателни данни за сваляне на компютър по всяко време
9. Изтриване в реално време на данни от измервания и групи
10.Висока и ниска аларма
11.Ниско захранване и грешки
12.USBПрехвърляне на данни към статистика за компютърен анализ
13.Настройваема функция за автоматично изключване
|
Сензорни сонди |
Феромагнитен |
Неферомагнитни |
|
Принцип на работа |
Магнитна индукция |
Върховни потоци |
|
Обхват на измерване |
0~1250um 0~49.21mils |
0~1250um 0~49.21mils |
|
Грешка (Относно текущите показания) |
0~850 um (+/- 3%+1um) 850um~1250 um (+/- 5%) 0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils) 33.46um~49.21mils (+/- 5%) |
0~850 um(+/- 3%+1.5um) 850um~1250um (+/- 5%) 0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils) 33.46um~49.21mils (+/- 5%) |
|
Точност |
0~50um (0.1um) 50um~850um(1um) 850um~1250um(0.01mm) 0~1.968mils (0.001mils) 1.968mils~33.46mils(0.01mils) 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
0~50um (0.1um) 50um~850um(1um) 850um~1250um(0.01mm) 0~1.968mils (0.001mils) 1.968mils~33.46mils(0.01mils) 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
|
Измерване на минималния радиус на кривина |
1.5mm |
3mm |
|
Минимална площ за измерване (диаметър) |
7mm |
5mm |
