Микроскоп LeicaDM12000MИзползвайки оптичния принцип, измерваната проба се поставя на платформа за наблюдение в микроскопа, като изображението на пробата се увеличава в очилата на микроскопа чрез отразяване или предаване на светлина. При характеристиките на пробата за разпространение и абсорбция на светлината, изображението на пробата по време на изображението непрекъснато се променя с промяната на параметрите. Наблюдателят може да прецени микроструктурата и тъканта на пробата въз основа на тази промяна.

Характеристики на микроскопа Leica DM12000M:

Новият оптичен дизайн, който осигурява бърза първоначална проверка в макрорежим и функция за наклонен ултравиолетов път (OUV, наклонен ултравиолетов режим на наблюдение), не само подобрява резолюцията, но и подобрява производствения капацитет за проверка на 12-инчови (300 mm) силициеви плочи. Новата технология за светодиодно осветление е интегрирана и интегрирана в микроскопа, с ниско топлинно излъчване и интегрирана в корпуса технология осигурява идеалното състояние на въздушния поток извън корпуса.

DM12000M Leica метафазен микроскоп за съкращаване на използването на проверка, подобряване на ефективността на проверката Автофокусирането на аксесоарите за предаване на светлина Автофокусирането на аксесоарите за проверка на светлината може да се съчетае с всички методи на наблюдение на отразяващо осветление, включително и наблюдение на тъмновидно поле и диференциална интерференция. Бърз и прецизен автоматичен фокус и точно намиране в реално време дори при промяна на начина на наблюдение.

На избор са два вида осветителни устройства, универсален тип и тип с висока цифрова диафрагма. За FPD, проверката на плочата MASK осигурява подходящо осветление и може да бъде оборудвана с поляризиращо огледало, което осигурява лесно поляризиране на прожектираната светлина. Висок контраст, по-висока резолюция, по-висока проверка на увеличението Начин на наблюдение на флуоресценцията за проверка на остатъците от фотогравиране Модул за флуоресцентен спектроскоп УВ оптичната система може да осигури по-висок контраст и резолюция с резолюция до 0,12 μm.

Четвърто, има различни флуоресцентни методи, като U.B.G, за остатъци от лепило и проверка на OLED. Удобен комуникационен интерфейс за контрол и параметри на увеличаването на микроскопа и апенденцията на апертурата RS232C за вътрешни проверки на вафели и устройства, дори заваръчни стъпала Стандартният аксесоар за наблюдение на близки инфрачервени лъчи включва RS232C интерфейс, който прави възможно управлението на електрическата част на микроскопа с компютър, и може да се постигне работа на няколко микроскопа на процесната линия в едно и също състояние на настройка.

5, включително специални инфрачервени обекти и други аксесоари, за да се коригира диспропорцията от видима светлина до близка инфрачервена светлина, използвана за дълбока или вътрешна проверка на IC, може да се постигне пълна проверка на WAFER BUMP Автоматична ширина на линията за измерване на CD аксесоари с субпикселна технология за постигане на високо точно измерване на CD.

Дизайнът за икономия на енергия с ниско потребление значително удължава експлоатационния живот и съответства на концепцията за зелена околна среда. Дизайнът за управление с един клик позволява на потребителя лесно да извърши преобразуването на увеличението и свързаните с него ефекти на осветление и фазиране.