1: Първоначално сечение на SiC мелебна хартия l 2: Първоначално сечение на фанер l 3: Коаксиални полимерни влакна (разтворени във вода), приготвени при -120 °C l 4: Офтен шист (нанопори) с общ диаметър на пробата 25 mm, обработен с Leica EM TIC 3X (с ротационен носител)

Резултати, които могат да бъдат копирани

Leica EM TIC 3X триионният лъчен резач подготвя напречни сечения и полиращи повърхности за научни изследвания по сканиращ електронен микроскоп (SEM), микроструктурен анализ (EDS, WDS, Auger, EBSD) и AFM.

С Leica EM TIX 3X можете да постигнете висококачествена повърхностна обработка на почти всеки материал при стайна температура или замразяване, показвайки вътрешната структура на пробата при почти естествено състояние.

Донесете безпрецедентно удобство!

Ефективност

За ефективността на йонната мелница наистина важно е едновременното постигане на отлични качествени резултати и висока производителност. Новата версия не само удвоява скоростта на рязане в сравнение с предишните версии, но и уникалната си триионна система оптимизира качеството на приготвянето и намалява работното време. Можете да обработвате до 3 проби наведнъж и да ги резате и полирате на една и съща платформа.

Решенията за работния процес осигуряват безопасно и ефективно прехвърляне на проби към последващите инструменти за подготовка или системи за анализ.

Гъвкава система – винаги за вашите нужди

С гъвкавия избор на носителни стойки Leica EM TIC 3X е идеално оборудване не само за обработка с висока производителност, но и за лаборатории, които поръчват тестове. За персонализиране на Leica EM TIC 3X можете да изберете следните заменяеми носители в зависимост от вашите нужди:

• Стандартен превозвач
• Разнообразен превозвач
• Въртяща се носителна стойка
• охлаждане или
• Вакуумно замразяване за пренос

Използва се за подготовка на стандартни проби, обработка с висок обем на добив и подготовка на проби, които са необичайно чувствителни към високи температури при ниски температури, като полимери, каучук или биоматериали.

Решения за работен процес, контролирани от околната среда

Благодарение на интерфейса VCT с Leica EM TIC 3X се осигурява отличен работен процес за изравняване на проби, които са уязвими към околната среда и/или проби с ниска температура, включително:

• биологични материали,
• Геологични материали
• или промишлени материали.

След това пробите се прехвърлят в нашите системи за покрития EM ACE600 или EM ACE900 и/или SEM при инертни газови/вакуумни/замразяващи условия.

Стандартно решение за работния процес – синергия с Leica EM TXP

Преди използването на Leica EM TIC 3X обикновено се изисква механична подготовка, за да бъде възможно най-близо до зоната от интерес. Leica EM TXP е уникална система за полиране на целеви повърхности, разработена за рязане и полиране на проби, която е добре подготвена за последваща техническа обработка на инструменти като Leica EM TIC 3X

Leica EM TXP е професионално проектиран за предварителна обработка на проби с използване на технологии за рязане, фрезиране, шлейф и полиране. За предизвикателни проби, които изискват точно местоположение и са трудни за приготвяне, тя осигурява отлични резултати и улеснява обработката.