Интеграция с наблюдателната система

Наблюдаване на целия процес на обработка на пробата и целевата област под микроскоп Фиксиране на пробата върху рамото на пробата, при обработка на пробата пробата може да се наблюдава в реално време чрез стереомикроскоп, ъгълът на наблюдение 0 ° до 60 ° може да се регулира или да се настрои до -30 ° при измерване на разстоянието чрез стъкло. Leica EMTXP също така се предлага с ярко кръгово светодиодно осветление, за да се постигне оптимално визуално наблюдение.
> Прецизно местоположение и подготовка на проби за малки целеви зони
> Наблюдение на място чрез стереомикроскоп
> Мултифункционална машинна обработка
> Автоматизиран контрол на процеса на обработка на проби
> Полиране като огледало
> LED пръстен светлинен източник с регулируема яркост, 4 сегмента за избор

Създаден за проби в микро мащаб

Позиционирането, рязането, смилането и полирането на малки цели в милиметърни и микронни мащаби е предизвикателна работа, която се дължи на:
Целта е твърде малка и не е лесна за наблюдение
Трудно е да се разположи точно целта или да се калибрира ъгълът на целта
> Шлеенето и полирането до определеното местоположение често отнемат много труд и време
Малките цели лесно се губят
> Размерът на пробата е малък, трудно да се използва и често трябва да се монтира опаковка

Интегрирана система за микронаблюдение и изображение

Стереомикроскоп Leica M80
> Проектиране на паралелен светлинен път: образуване на паралелен светлинен път чрез централния обект, последователно фокусно равнище
> Висока резолюция: всички променливи разлики имат високо качество на изображението и стабилна светлина
> Ергономичен дизайн: комфортна употреба без мускулно напрежение и умора
Камера с висока резолюция Leica IC80 HD*
> Безшевен дизайн: монтиран между оптичната глава и огледа без добавяне на видео тръби или фотоелектрически тръби
Висококачествено изображение: осигуряване на качеството на изображението и получаване на безотразяващи изображения с коосиален оптичен път с микроскоп
> Осигуряване на динамични изображения с висока резолюция, които могат да се използват за свързване или изключване на компютър
4 секции регулируема яркост LED кръгов източник на светлина
> Различни ъгли осветление разкрива проби дребни детайли

Различни начини за подготовка на проби

Пробата не трябва да се прехвърля, просто сменяйте инструмента
Не е необходимо да се прехвърля пробата напред и назад, просто трябва да се замени инструментът за обработка на пробата, за да се завърши процесът на обработка на пробата, а целият процес на обработка на пробата може да бъде наблюдаван в реално време чрез микроскоп. От съображения за безопасност студиото, в което се намират инструментите и пробите, е оборудвано с прозрачен предпазен капак, който предотвратява случайното докосване на работните части от оператора по време на обработката на пробите и предотвратява пръскането на отломки.
LEICA EM TXP може да обработва пробите по следния начин:
> фрезиране
> Резане
> Млеене
> Полиране
> Пробиване