Приемане на дизайн на осветление, вече не се притеснявайте за замърсяване на светлинните пътища, проблеми с почистването и увеличаване на времето за почистване. Събиране на всички предимства на серията ZSX: двойна вакуумна система, автоматично вакуумно управление, картографиране / микрозионен анализ, супер чувствителност към ултралеки елементи и автоматично почистване на ядрото и др. ZSX PrimusIV позволява гъвкав анализ на сложни проби. 30 μm ултра тънка прозоречна тръба, която гарантира чувствителност към анализа на леки елементи. Най-съвременните пакети за картографиране могат да открият хомогенност и смесване. ZSX Primus IV е напълно оборудван за лабораторните предизвикателства на 21 век

Обхват на анализа на характеристиките:

Be-U По-малка площ Микрозонален анализ Дизайн на горната светлина 30 μm Ултратънки прозорци Картиране: Разпределение на елементите He Уплътнение: Камерата за проби винаги е във вакуумна среда

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV е непрекъснат дисперсионен рентгенов флуоресцентен спектрометър (WDXRF) с дължина на вълната над тръба, който позволява бързо количествено измерване на основните и вторичните атомни елементи от берилий (Be) до уран (U), тип проба - с минимални стандарти.

Новият XRF софтуер за системата за ръководство ZSX Expert

Ръководството ZSX поддържа всички аспекти на измерването и анализа на XRF данни. Точният анализ може ли да бъде направен само от експерти? Това е минало. Софтуерът ZSX Guidance разполага с вграден XRF експертизъм и квалифицирани експертни познания за работа с сложни настройки. Операторът просто трябва да въведе основната информация за пробата, анализирания компонент и стандартния състав. Измерващите линии с минимално припокриване, оптимален фон и корекционни параметри (включително припокриване на линии) могат да бъдат автоматично настроени с помощта на масов спектър.

Изключителни леки елементи XRF производителност с обратна оптика за превъзходна надеждност

ZSX Primus IV разполага с иновативна оптика в горната конфигурация. Благодарение на поддръжката на стаята за проби, вече не трябва да се притеснявате за замърсения път на лъча или времето за спиране. Геометрията над оптичните елементи елиминира проблемите с почистването и удължава времето за използване. ZSX Primus IV WDXRF спектрометър с изключителна производителност и гъвкавост в анализа на най-сложните проби използва 30-микронна тръба, най-тънката тръба с терминален прозорец в индустрията, която осигурява отлични граници за откриване на леки елементи (ниски Z).

Картиране и многоточков XRF анализ

В комбинация с най-съвременната картографска опаковка за откриване на еднообразността и обзавеждането, ZSX Primus IV може да извърши прости и подробни XRF спектрометрични изследвания на проби, за да предостави аналитични прозрения, които не са лесно достъпни с други методи на анализ. Наличният многоточков анализ също помага за премахване на грешките при вземане на проби в неравномерни материали.

Основни параметри на SQX с помощта на софтуера EZ-scan

EZ сканирането позволява на потребителя да извършва XRF елементарен анализ на неизвестни проби без предварителна настройка. Функцията за спестяване на време изисква само няколко кликвания с мишката и въвеждане на името на пробата. В комбинация с софтуера за основни параметри SQX, той осигурява най-точните и бързи XRF резултати. SQX автоматично коригира всички ефекти на матрицата, включително припокриването на линиите. SQX също така коригира ефектите на вторично възбуждане на фотоелектрони (светлинни и ултралеки елементи), различни атмосфери, примеси и различни размери на пробата. Използването на съвпадащи библиотеки и перфектни програми за анализ на сканирането подобрява точността.

Характеристики

• Елементарен анализ от Be до U

• ZSX насочване експерт системен софтуер

• Цифрови многоканални анализатори (D-MCA)

• EZ анализен интерфейс за редовни измервания

• Оптиката над тръбата минимизира замърсяването

• Малка площ и ограничено използвано лабораторно пространство

• Микроанализ за анализ на проби до 500 μm

• 30 μm тръби осигуряват изключителни свойства на леките елементи

• Картиране на топографията / разпределението на елементите на функциите

• Хелиевото уплътнение означава, че оптичните устройства винаги са във вакуум

•